Difracción de Rayos X (XRD)

El espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía irradia la muestra con rayos X y mide la energía (longitud de onda) y la intensidad de los rayos X fluorescentes generados para determinar el tipo y contenido de los elementos que componen la muestra. Dado que la espectrometría de fluorescencia de rayos X permite el análisis elemental no destructivo de muestras sólidas, en polvo y líquidas, así como pruebas rápidas y no destructivas de elementos nocivos en placas de circuitos impresos y otros dispositivos electrónicos. Es ampliamente utilizado por la electrónica y los fabricantes de automóviles de todo el mundo para recibir y enviar las inspecciones y otros controles de calidad en conformidad con la Directiva RoHS / ELV.

ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X

EDX-LE es un espectrómetro de fluorescencia de rayos X diseñado específicamente para elementos de cribado regulados por las directivas RoHS / ELV. El modelo utiliza un detector (detector de semiconductores de Si-PIN) que no requiere nitrógeno líquido, logrando así un menor costo de operación y un mantenimiento más fácil. Las funciones de análisis automatizadas mejoran la operatividad sin sacrificar su alto nivel de fiabilidad en la inspección.

DIFRACTÓMETROS DE RAYOS X

Los difractómetros de rayos X pueden analizar de forma no destructiva la materia en condiciones atmosféricas normales. El análisis cualitativo de la materia, la determinación constante de la red, la medida del esfuerzo, y otras operaciones son posibles. El análisis cuantitativo también se puede realizar a partir de cálculos de área de pico. Además, se pueden realizar otros análisis que incluyen el tamaño de partícula o la medida de cristalinidad y el análisis estructural de precisión de rayos X a partir del perfil de pico o de la extensión angular del pico.

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Modelos – Espectroscopía de Rayos X

Cuando una muestra se irradia con rayos X de un tubo de rayos X, los átomos en la muestra generan rayos X exclusivos que se emiten desde la muestra. Dichos rayos X se conocen como “rayos X fluorescentes” y tienen una longitud de onda y energía que son característicos de cada elemento que los genera. En consecuencia, el análisis cualitativo puede realizarse investigando las longitudes de onda de los rayos X. Como la intensidad de rayos X fluorescente es una función de la concentración, el análisis cuantitativo también es posible midiendo la cantidad de rayos X en la longitud de onda específica de cada elemento.

  • Materiales eléctricos o electrónicos.
  • Automotriz y maquinaria.
  • Metales ferrosos y no ferrosos.
  • Minería.
  • Cerámica.
  • Petroquímica y aceites.
  • Químico.
  • Ambiental.
  • Farmacéutica.
  • Agricultura y alimentos.
  • y más…

XRD-6100 es un difractómetro de rayos X de propósito general tiene un software de aplicación compatible con Windows XP / 7, que lleva a este difractómetro de rayos X compacto, multifuncional y de uso general a la era de análisis en red. Con su facilidad básica de uso y funciones abundantes, el XRD-6100 ofrece soluciones que abarcan amplios requerimientos de análisis, desde análisis cualitativos y cuantitativos rutinarios hasta análisis de cambios de estado, incluyendo análisis de estrés, cuantificación de austenita residual, tamaño de cristalita / tensión reticular, y cristalinidad cálculo

El XRD-7000 es un nuevo concepto de difractometría de rayos X multifuncional
Una configuración con opciones para acomodar muestras de hasta 400 mm de diámetro, el XRD-7000 es capaz de manejar muestras extra grandes así como muestras líquidas. Además del análisis cualitativo y cuantitativo básico, el XRD-7000 maneja la cuantificación residual de austenita, el análisis cuantitativo ambiental, el grado de cálculos de cristalinidad y la determinación del sistema cristalino, entre otros, mientras que una gama de accesorios amplía sus capacidades.

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