Fluorescencia de Rayos X

DESCRIPCIÓN

EDX series:

El espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía irradia la muestra con rayos X y mide la energía (longitud de onda) y la intensidad de los rayos X fluorescentes generados para determinar el tipo y contenido de los elementos que componen la muestra. Dado que la espectrometría de fluorescencia de rayos X permite el análisis elemental no destructivo de muestras sólidas, en polvo y líquidas, así como pruebas rápidas y no destructivas de elementos nocivos en placas de circuitos impresos y otros dispositivos electrónicos. Es ampliamente utilizado por la electrónica y los fabricantes de automóviles de todo el mundo para recibir y enviar las inspecciones y otros controles de calidad en conformidad con la Directiva RoHS / ELV.

  • Los espectrómetros de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía EDX-7000P y EDX-8000P pasaron la aprobación de tipo BfS, las normas de seguridad prescritas por el BfS (Instituto Federal de Seguridad contra las Radiaciones) de Alemania. Esta certificación BfS, administrada por el gobierno alemán, es considerada una de las normas de seguridad más estrictas en el mundo y es aceptada en todo el mercado europeo como un sello de calidad. En la mayoría de los países europeos, esta certificación exime al usuario final de tener una calificación de usuario y el hardware ya no requerirá inspecciones anuales de fugas de rayos X. Esto simplificará la operación y reducirá los costos de administración del sistema para el usuario.

 

  • EDX-LE es un espectrómetro de fluorescencia de rayos X diseñado específicamente para elementos de cribado regulados por las directivas RoHS / ELV. El modelo utiliza un detector (detector de semiconductores de Si-PIN) que no requiere nitrógeno líquido, logrando así un menor costo de operación y un mantenimiento más fácil. Las funciones de análisis automatizadas mejoran la operatividad sin sacrificar su alto nivel de fiabilidad en la inspección.

 

 

XRF
Con el espíritu de un pionero de análisis local, la cartografía y de 4 kW de tubo de rayos X de ventana fina, Shimadzu cepillo de estas tecnologías con la revisión de hardware y software, y lograr más confiable, más operativo y más funcional del sistema. Estamos orgullosos de presentar el sistema

 

  • XRF-1800. Primera cartografía de 250μm en el mundo para análisis de dispersión de longitud de onda (patentado). Esto permite analizar la distribución del contenido y la distribución de la intensidad de la muestra no uniforme

 

 

XRD
Descripcion:
Los difractómetros de rayos X pueden analizar de forma no destructiva la materia en condiciones atmosféricas normales. El análisis cualitativo de la materia, la determinación constante de la red, la medida del esfuerzo, y otras operaciones son posibles. El análisis cuantitativo también se puede realizar a partir de cálculos de área de pico.
Además, se pueden realizar otros análisis que incluyen el tamaño de partícula o la medida de cristalinidad y el análisis estructural de precisión de rayos X a partir del perfil de pico o de la extensión angular del pico.

 

  • El MAXima_X XRD-7000 es de alta precisión que puede aceptar hasta 400mm (w) x 5500mm (d) x 400mm (h) máximo. Puede realizar cálculos de cristalinidad, tamaño de cristales y cálculos de cristales, determinación de sistemas cristalinos, mediante el análisis de rietveld, y otros análisis de estructura cristalina basados en software, así como análisis cualitativo básico y análisis cuantitativo.

 

  • El LabX XRD-6100 cuenta con un goniometro vertical de alta velocidad y alta precisión para diversas aplicaciones. Diseño compacto de 900 mm (p) x 700 mm (d) x 1600 mm (h). Sistema de enclavamiento de seguridad. La puerta se bloquea durante la radiación. Se pueden seleccionar ejes independientes de eje doble θ-2θ, ejes independientes 2θ y ejes θ. Y cuenta con varios hardware y software opcionales.